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首頁>>北京儀光科技有限公司>>產(chǎn)品展示>>掃描電子顯微鏡

  • 蔡司 Sigma系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡 參考價:面議

    蔡司 Sigma系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡性價比高。Sigma 500 裝配有背散射幾何探測器,可快速方便地實現(xiàn)基礎分析。任何時間,任何樣品均可獲得精準可重復的分...
    型號: 廠商性質(zhì):代理商所在地:北京市 對比
    掃描電子顯微鏡蔡司掃描電子顯微鏡
    2024/11/12 16:45:26315
  • 蔡司 EVO系列掃描電子顯微鏡 參考價:面議

    蔡司 EVO系列掃描電子顯微鏡將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗結合在一起, 同時能夠吸引經(jīng)驗豐富的用戶以及新用戶。無論是在生命科學, 材料科學, ...
    型號: 廠商性質(zhì):代理商所在地:北京市 對比
    掃描電子顯微鏡蔡司掃描電子顯微鏡蔡司掃描電鏡
    2024/11/12 16:45:05341
  • 蔡司 GeminiSEM系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡 參考價:面議

    蔡司 GeminiSEM系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡一直是高分辨力與寬樣品適用性的代名詞。無論您從事的研究方向是什么,GeminiSEM都可以滿足您的需求。創(chuàng)新的電...
    型號: 廠商性質(zhì):代理商所在地:北京市 對比
    掃描電子顯微鏡蔡司掃描電子顯微鏡
    2024/11/12 16:44:48457
  • 蔡司離子束顯微鏡ORION NanoFab 參考價:面議

    蔡司離子束顯微鏡ORION NanoFab集鎵、氖、氦三種離子束于一身,是能實現(xiàn)從微米到納米微加工的成像加工系統(tǒng)。
    型號: 廠商性質(zhì):代理商所在地:北京市 對比
    蔡司離子束顯微鏡蔡司掃描電子顯微鏡
    2024/11/12 16:36:48489
  • 蔡司雙束電鏡Crossbeam系列(FIB-SEM) 參考價:面議

    蔡司雙束電鏡Crossbeam系列(FIB-SEM)結合了高分辨率場發(fā)射掃描電鏡(FE-SEM)的出色成像和分析性能,以及新一代聚焦離子束(FIB)的優(yōu)異加工能...
    型號: 廠商性質(zhì):代理商所在地:北京市 對比
    蔡司雙束電鏡蔡司掃描電子顯微鏡
    2024/11/12 16:34:04596
  • 原位拉伸-掃描電鏡 參考價:面議

    ZEM15原位拉伸掃描電鏡基于自主研發(fā)的臺式掃描電鏡,集成原位拉伸樣品臺,對樣品進行原位拉伸/壓縮/彎曲的過程中實時觀察樣品表面形貌的變化產(chǎn)品介紹ZEM15原位...
    型號: ZEM15 廠商性質(zhì):代理商所在地:北京市 對比
    澤攸
    2024/11/12 16:26:37745
  • PicoFemto掃描電鏡原位氣氛加熱環(huán)境測量 參考價:面議

    PicoFemto掃描電鏡原位氣氛加熱環(huán)境測量系統(tǒng),將MEMS氣氛環(huán)境微腔和加熱模塊集成到掃描電鏡樣品臺上,在掃描電鏡中制造可控的氣氛環(huán)境并且可以對實驗樣品原位...
    型號: 廠商性質(zhì):代理商所在地:北京市 對比
    澤攸
    2024/11/12 16:19:34483
  • PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學測量 參考價:面議

    PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學測量系統(tǒng),是在標準外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量
    型號: 廠商性質(zhì):代理商所在地:北京市 對比
    澤攸
    2024/11/12 16:19:16261
  • 澤攸ZEM15臺式掃描電鏡能譜一體機 參考價:面議

    澤攸ZEM15臺式掃描電鏡能譜一體機采用自主研發(fā)的鎢燈絲電子槍,加速電壓在1-15kV范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào),搭配二次電子探測器、背散射電子探測器、集成式oxford能...
    型號: 廠商性質(zhì):代理商所在地:北京市 對比
    澤攸ZEM15臺式掃描電鏡能譜一體機
    2024/11/12 15:30:16112
  • 澤攸ZEM15原位拉伸-掃描電鏡 參考價:面議

    澤攸ZEM15原位拉伸-掃描電鏡基于自主研發(fā)的臺式掃描電鏡,集成原位拉伸樣品臺,對樣品進行原位拉伸/壓縮/彎曲的過程中實時觀察樣品表面形貌的變化
    型號: 廠商性質(zhì):代理商所在地:北京市 對比
    ZEM15澤攸原位拉伸掃描電鏡
    2024/11/12 15:25:22154

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